keywords:"critical energy" - Výsledky hledání - Digitální repozitář

host :: přihlásit Digitální repozitář
		Hledej		Nový záznam		Nápověda		O repozitáři

Hlavní stránka > Výsledky hledání: keywords:"critical energy"

Hledej:

Tipy pro vyhledávaní :: Rozšířené hledání

Hledej ve sbírkách:

Seřadit podle:	Zobrazit výsledky:	Výstupní formát:

	SMV-2019-14: Morfologická analýza pyrolytického grafitu v bazální a hranové orientaci pro biofyzikální výzkum Mika, Filip Vypracování metodiky preparace a zobrazení vloček pyrolytického grafitu ve vysokorozlišovacím SEM bez nutnosti pokovení, tj. bez ztráty informace o reliéfu a jejich skutečné velikosti. Metodika pro morfologickou analýzu jednotlivých vloček ze zorných polí širokých až několik centimetrů. Úplný záznam
	Pozorování nevodivých nano-struktur v rastrovacím elektronovém mikroskopu Wandrol, Petr ; Mika, Filip Práce se zabývá pozorováním nevodivých vzorků v rastrovacím elektronovém mikroskopu metodou nalezení kritické energie pomocí katodové čočky a detektorem nízkoenergiových zpětně odražených elektronů. Obě metody jsou detailně popsány a jejich výhody jsou ukázány na zobrazení rozličných nevodivých vzorků. Úplný záznam
	Scanning electron microscopy with low energy electrons Mika, Filip A method of scanning electron microscopy (SEM) of nonconductive specimens, based on measurement and utilisation of the critical energy of electron impact, is described in detail together with examples of its application. The critical energy, at which the total electron yield curve crosses the unit level, is estimated on the base of measurement of the time development in the image signal from beginning of irradiation. The method is programmed and implemented as a module to the controlling software of the micropscope type VEGA, where it secures fast search for the critical energy value. Úplný záznam
	Scanning electron microscopy with low energy electrons Mika, Filip A method of scanning electron microscopy (SEM) of nonconductive specimens, based on measurement and utilisation of the critical energy of electron impact, is described in detail together with examples of its applications. The critical energy, at which the total electron yield curve crosses the unit level, is estimated on the base of measurement of the time development in the image signal from beginning of irradiation. The method is programmed and implemented as a module to the controlling software of the microscope type VEGA, where it secures fast search for the critical energy value. Úplný záznam
	SEM imaging of nonconductive powders at critical energy Zobačová, Jitka ; Zdražil, Josef ; Müllerová, Ilona ; Frank, Luděk As a rule, at electron energies normally used in SEM, the total electron yield is lower then 100% and some negative charge is dissipated in the specimen. This prevents observation of nonconductors in which the injected charge stays localized and its field destroys both geometry and brightness scale of the image. Úplný záznam

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.

Digitální repozitář :: :: :: ::
Powered by v1.1.2
Spravuje

Tato stránka je dostupná také v následujících jazycích:
Česky English